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電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī) 詳細(xì)摘要: 電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào):HY(IC) 所在地:上海市 更新時(shí)間:2018-09-11 參考價(jià): 面議 在線留言 -
IC卡拉力測(cè)試儀 詳細(xì)摘要: IC卡拉力測(cè)試儀根據(jù)用戶要求可求取非金屬材料的較大強(qiáng)度、彈性模量(E)、定壓縮強(qiáng)度、定荷伸長(zhǎng)、屈服強(qiáng)度等。金屬材料的屈服強(qiáng)度、非比例強(qiáng)度、總壓縮強(qiáng)度、抗壓(拉)...
產(chǎn)品型號(hào):HY-0230 所在地:上海市 更新時(shí)間:2018-09-11 參考價(jià): 面議 在線留言 -
IC卡剝離力測(cè)試儀 詳細(xì)摘要: IC卡剝離力測(cè)試儀根據(jù)用戶要求可求取非金屬材料的較大強(qiáng)度、彈性模量(E)、定壓縮強(qiáng)度、定荷伸長(zhǎng)、屈服強(qiáng)度等。金屬材料的屈服強(qiáng)度、非比例強(qiáng)度、總壓縮強(qiáng)度、抗壓(拉...
產(chǎn)品型號(hào):HY-0230 所在地:上海市 更新時(shí)間:2018-09-11 參考價(jià): 面議 在線留言 -
智能卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) 詳細(xì)摘要: 智能卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)?用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào):HY(IC) 所在地:上海市 更新時(shí)間:2018-09-11 參考價(jià): 面議 在線留言 -
IC卡動(dòng)態(tài)彎扭曲測(cè)試儀 詳細(xì)摘要: IC卡動(dòng)態(tài)彎扭曲測(cè)試儀?用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào):HY(IC) 所在地:上海市 更新時(shí)間:2018-09-11 參考價(jià): 面議 在線留言 -
IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) 詳細(xì)摘要: IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1,國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試...
產(chǎn)品型號(hào):HY(IC) 所在地:上海市 更新時(shí)間:2018-09-11 參考價(jià): 面議 在線留言